全自动颗粒度大小分析系统莱卡解决方案-盖智科技

全自动颗粒分析系统

1、 高整合的自动系统

全面整合进口显微镜、进口数码设备、进口XYZ-3轴电动扫描台；项目化管理、流程化操作。

2、 自动扫描

自动扫描整个样品。支持多种扫描方式：矩形区域、圆形区域等；；支持异形样品扫描；满足各种不同标准、不同用户的检测需要，大大提高工作效率。

3、 自动聚焦

支持多种聚焦模式：补偿聚焦、手动聚焦、EFI聚焦等。采用最新的聚焦算法，保证在试样不够平整的情况下也能得到清晰的图像。

4、 自动拍照

自动拍照、照片自动保存，进度状态实时可见；照片信息存入数据库，方便查询；提供视场图片浏览功能，可以实现视场定位回溯、重新拍照等功能。

5、 多种检查方法

支持定义颗粒分类标准，可以根据用户自定义检查分类数据，很好的兼容了厂内标准、自定义标准等情况。

6、 颗粒自动识别与分类

系统自动识别颗粒、自动统计颗粒面积、直径、圆度等二十余种参数。同时支持颗粒编辑/拆分/重组；支持阴影校正、提高颗粒识别精度；支持帧间颗粒探测技术，保证颗粒尺寸准确。提供多种统计分析工具：MAP图、颗粒列表、颗粒统计结果、直方图等。自动统计颗粒尺寸分布和空间分布。

7、 专业的孔隙分析报告

专业的颗粒分析报告，根据不同标准生成对应的专业报告；支持报告的个性化设计。

全自动颗粒度大小分析系统的组成及应用范围

1、 全自动颗粒分析系统  Automatic Analysis System

全自动的颗粒分析系统是采用图像分析法进行颗粒的分析与统计。可用于各种颗粒试样的分析统计。例如：粉末冶金、涂料颗粒、油液中的颗粒等等。

系统由多种自动控制部分组成。包括：光学显微镜、3轴电动台（支持多种高精度电动台）、电动转盘控制器、自动拍照系统、全自动颗粒分析软件等。

全自动的检验分析过程：自动扫描整个试样、自动拍照，颗粒自动识别、统计、分析，自动生成专业分析报告；

2、 自动扫描样品 Auto Scan，Support Multiple Scanning Area 

支持多种扫描方式：矩形区域、圆形区域等；满足各种应用需要；

3、 多种自动聚焦算法   Multiple Automatic Focus Algorithm

支持多种聚焦模式：补偿聚焦、跟踪聚焦、手动聚焦、EFI聚焦等。采用最新的聚焦算法，保证在试样不够平整的情况下也能得到清晰的图像；    

4、 自动拍照、视场自动定位  Automatic Camera and Field Position

采集过程自动拍照、照片自动保存，进度状态实时可见；照片信息存入数据库，方便查询；

提供视场图片浏览功能，可以实现视场定位回溯、重新拍照等功能。

5、 多种检测方法   Multi Testing Standard 

符合GB/T 15445-1995标准等常用颗粒粒度检测标准，同时支持多种行业标准。

可以根据用户自定义检查分类数据，很好的兼容了厂内标准、自定义标准等情况。

6、 颗粒自动识别与分类

Particles Automatic Identification and Classification

系统自动识别颗粒、自动统计颗粒面积、直径、圆度等二十余种参数。同时支持颗粒编辑/拆分/重组；支持阴影校正、提高颗粒识别精度；支持帧间颗粒探测技术，保证颗粒尺寸准确。提供多种统计分析工具：MAP图、颗粒列表、颗粒统计结果、直方图等。自动统计颗粒尺寸分布和空间分布。

7、 专业颗粒分析报告  Professional Inclusion Report

专业的颗粒分析报告，根据不同标准生成对应的专业报告；支持报告的个性化设计。